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賽默飛世爾尼通手持式X熒光光譜儀XL5Plus
產品名稱:
 賽默飛世爾尼通手持式X熒光光譜儀XL5Plus
規(guī)    格:
 XL5Plus
產品備注:
 
產品類別:
 賽默飛世爾尼通
 
 
 
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產品說明



  • 產品簡介
    合金成分和牌號的檢驗對于回收站、金屬材料加工廠和金屬質量管理等極為重要。檢驗員通常要在充滿挑戰(zhàn)的工作環(huán)境中快速精確確定各種類型的金屬材料的分和牌號。 XL5Plus手持式合金分析儀,將手持式X熒光技術與現(xiàn)代工業(yè)測試需求相結合。 賽默飛世爾(Thermo Fisher Scientific),原稱美國熱電集團,尼通(Niton)是其旗下品牌。作為手持式X射線熒光(XRF)分析儀器制造行業(yè)的JiaoJIao者。尼通新發(fā)布的XL5Plus系合金分析儀加入人性化設計,具有小巧,快速,精準,穩(wěn)定的設計。
  • 技術優(yōu)勢
    1、速度快,操作簡單,“開機啟動—瞄準測試—察看結果”,整個分析過程僅需
    數(shù)秒便可完成,合金牌號鑒別只需1~2 秒鐘,操作簡單,即使非技術人員也可
    輕松掌握。
    3
    2、采用 X 射線熒光光譜,可方便、快速、準確、完全無損地測量材料中從Mg
    到U 之間的所有元素,同時顯示標準偏差。對合金牌號的鑒定不超過3 秒,對
    合金成分分析不超過 10 秒。
    3、多元素定性/定量分析,可以對樣品中多種元素同時進行定性定量分析,對
    樣品無要求,可分析固體、粉末、液體各種形態(tài)的樣品。針對合金樣品可達到
    接近實驗室級的分析水平,可直觀顯示合金牌號和元素百分比含量(某些元素可
    顯示到小數(shù)點后三位)及 ppm 含量。
    4、全球最先進的基本參數(shù)法(FP)分析軟件,針對所有合金材料實現(xiàn)完全盲測。
    具有合金牌號鑒別與成分分析功能、標識匹配鑒別功能等多種測試功能,滿足
    客戶不同需求。
    5、所測元素分析范圍為:檢測下限~100%,不分基體一鍵測試;機內自動存儲
    130000 個以上的分析數(shù)據(jù)及譜圖,配備高溫測試配件,可對溫度可達 480°C
    的高溫樣品進行檢測。
    6、具有機內自動診斷和故障報告功能,同時能實現(xiàn)機內自校準,無需外部標
    樣。具有USB 口、藍牙、數(shù)據(jù)線等直接進行數(shù)據(jù)傳輸。
    7、被測樣品的尺寸:線材直徑 1mm 以上、小口徑管材外徑 2mm 以上。材料(表
    面)狀態(tài)是平面、曲面、粗糙表面、粉末、粘土狀等都可以準確測量。
    8、熱插拔功能可在更換電池時保持分析儀供電。
    9、NITON 獨有的防扎檢測器,在分析尖銳物品時,通過標準 Detector
    ProGuard 保護裝置將穿刺風險降到最低。
    2.2 產品特點
    1、重量:1.3kg 含電池
    2、外觀尺寸及特點:242.56 x 208.17 x 67.9 mm;一體化設計,堅固耐用,
    高密閉性,防水防塵抗沖擊,尤其適合現(xiàn)場或野外使用。
    ★3、激發(fā)源:高性能微型X 射線光管,銀陽極靶材;管電壓6-50kV,最大
    50KV 能最大效率激發(fā)測量更多金屬元素;管電流最大500uA;匹配功率最大
    5W,動態(tài)可調電流,為每次分析提供最高靈敏度。
    4
    ★4、探測器:窗口材料升級為1μm 石墨烯,探測器前新增Pro Guard 網(wǎng)格保
    護,最大承受50N 的力。高性能GOLDD+探測器(Geometrically Optimized
    Large area Drift Detector),是幾何優(yōu)化的大面積SDD 探測器,檢測速度更
    快,是Si-PIN(硅半導體探測器)探測器的10 倍,是SDD(小型硅電子漂移探
    測器)的3 倍;通量高達 270,000 cps 的專利探測器;典型分辨率:< 150 ev
    (取決于所用的成形時間)
    ★5、系統(tǒng)電子設備:800 MHz iMX6 四核 ARM A9 CPU、80 MHz ADC ASIC 數(shù)字
    脈沖處理器、4096 多道分析器、512 MB 內部系統(tǒng)存儲空間/16 GB 工業(yè)級存儲
    空間??筛咚偻瓿蓪Ψ治鰯?shù)據(jù)的計算處理、存儲、通訊和其它各項功能。
    6、顯示器:可調節(jié)角度彩色觸摸顯示屏高亮度,方便數(shù)據(jù)觀察,用戶可輕松應
    對下雨、陽光直射等不利環(huán)境下的應用;
    ★7、測試模式(可選模式):常見金屬,貴金屬,鍍層,礦石,土壤,電子金
    屬,塑料,涂漆鉛,指紋光譜,TestAllTM
    ★8、測試范圍:從Mg-U 之間
    金屬模式包括33 種元素: Mg, Al, Si, P, S, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni,
    Cu, Zn, Se, Y, Zr, Nb, Mo, Ru, Pd, Ag, Cd, Sn, Sb, Te, Hf, Ta, W, Re,
    Au, Pb, Bi.
    ★9、檢出限:ppm 級檢出限水平,適用于更為廣泛的精度測量。無檢出上限,
    精準的分析0~100%之間的元素含量。

 
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